▮ 實際應用場景
產業背景
半導體先進封裝製程工程師
面臨問題
Wire Bonding、Flip Chip、CoWoS 等先進封裝製程中,微尺度動態行為肉眼不可見,缺陷重現困難,改善週期長。
HSC 解決方案
DITECTHAS 系列以最高 400,000fps(降解析度模式) 擷取封裝關鍵瞬間,搭配顯微鏡頭與同步觸發,建立標準化製程影像數據庫。
成效
封裝廠客戶平均在 2 週內找到缺陷根因,製程改善週期縮短 70%,並取得多項製程優化的學術與專利數據。
半導體製程應用
半導體封裝高速攝影機應用指南:Wire Bonding、CoWoS、HBM TCB
從 Wire Bonding 到 CoWoS TCB,東茂科技提供台灣半導體廠專用高速攝影機解決方案。竹科/中科/南科4小時到場,安排 DEMO評估。
生產線上,Wire Bonding 斷線率突然飆升,製程工程師只能盯著 SEM 影像猜測原因。
CoWoS TCB 接合良率下降,卻看不見 300°C 高溫下那 1ms 的接合瞬間發生什麼事。
這些問題的共通點:關鍵動作發生在毫秒等級,肉眼與一般相機完全無法捕捉。
本指南整理半導體封裝各製程的高速攝影機應用需求,包含建議 fps、分析重點、推薦機型,協助您快速找到缺陷根因。
半導體封裝各製程:高速攝影機需求一覽
| 製程 | 建議fps | 動作時間 | 分析重點 | 推薦機型 |
|---|---|---|---|---|
| Wire Bonding 打線 | 5,000~20,000fps | 5~15ms | 斷線位置、loop均一性、Ball Formation | DITECT HAS-EF / AOS M.PRI |
| Die Attach 晶片黏合 | 2,000~5,000fps | 50~200ms | 接合偏移、膠量均勻性、氣泡形成 | DITECT HAS-D71 / SSZN SH6 |
| CoWoS / HBM TCB | 10,000~20,000fps | 200~500ms | Micro-Bump接合、Warpage翹曲、UF流動 | AOS PROMON / Mega Speed MS50K |
| Underfill 底膠填充 | 2,000~5,000fps | 1~5s | 流動前緣、void形成、角落填充 | DITECT HAS-D71 / SSZN SH6 |
| Solder Reflow 回焊 | 1,000~2,000fps | 1~10s | Solder Bridge、Ball塌陷、飛濺 | Mega Speed MS120K / DITECT HAS-U1 |
| 晶圓切割 Dicing | 5,000~20,000fps | 1~5ms | 崩角(Chipping)、裂紋擴展 | DITECT HAS-EF / AOS M.PRI |
💡 機型選擇提示:不確定哪個品牌適合您的需求?聯絡東茂科技安排免費到場評估,工程師攜帶設備實測,當天出建議報告。
Wire Bonding 打線:斷線根本原因分析(RCA)流程
Wire Bonding 斷線是半導體廠最常見的良率問題之一。
傳統 SEM/光學顯微鏡只能看到結果,高速攝影機能捕捉斷線那一瞬間,直接定位根本原因。
以下是東茂科技工程師實際執行的 RCA 標準流程:
1
設備架設:將 DITECTHAS-EF 固定在 Wire Bonder 上方,焦距對準 Bond Pad 區域。
2
同步觸發設定:觸發線接到 Bonder 的 I/O 信號。東茂科技工程師現場完成架設(約2小時)。
3
連續記錄:設定環狀緩衝 + 斷線觸發(電流異常),連續記錄100~500次打線操作,確保捕捉到異常事件。
4
慢動作分析:使用 DITECT 軟體逐幀
選型常見問題
10,000fps 等級的高速攝影機推薦哪些?
東茂代理多款萬幀級機種:DITECT HAS-D73(最高 15,000fps)、SSZN SH6-116(最高 15,800fps)、AOS L-PRI(最高 5,250fps,大感光元件)。選擇時需考量解析度、感光度和記憶體容量。
半導體製程檢測需要多快的攝影機?
Wire Bonding 打線接合建議 5,000-15,000fps,Pick & Place 貼片建議 3,000-10,000fps,CoWoS/HBM 封裝檢測建議 2,000-5,000fps。關鍵是搭配微距鏡頭和同軸光源。
PIV 粒子影像測速需要什麼規格?
PIV 實驗建議 1,000-10,000fps,解析度至少 1280×1024,搭配脈衝雷射和同步器。東茂提供 PIV 系統整合方案,含攝影機、光源、分析軟體一站式服務。

